非接觸式雷達物位計

- 能提供連續的物位測量

1 基本原理

非接觸式雷達物位計發送信號通過蒸氣到表面并返回物位計的信號。因為是非接觸的，是用于黏滯的、粘性和有攪拌液體工況的最理想的選擇。常常在帶有攪拌器的容器中使用非接觸性雷達物位計。可以完全地將它與工藝介質隔離，并且與隔離閥一同使用。大部分供應商提供適用于1至30或40米工況非接觸型雷達物位計。

 

圖2.2.1 安裝到不同工況中帶不同天線的非接觸式雷達物位計

與所使用的技術相比，非接觸式雷達的頻率范圍對性能影響更大。低頻雷達，天線對蒸汽、泡沫和污染的靈敏度較低，而為了將來自罐嘴、罐壁和干擾物體的影響降至最低，高頻能使雷達波束角變窄。波束寬度與天線尺寸成反比。給定頻率的波束寬度，將隨著天線尺寸的增加而減小。

2 優點

在測量距離表面的距離時，非接觸式雷達物位計能進行從上到下的直接測量。它可以使用在液體、淤泥、泥漿和某些固體中。雷達的一個主要優點是在液體的密度、介電常數或者電導率發生變化時，不需要進行補償。壓力、溫度和蒸汽空間條件上的變化不會對雷達測量的精度產生影響。此外，雷達裝置上不包含任何活動部件，因此需要的維護更少。可以使用屏障（例如PTFE、隔離窗或者閥門）來將非接觸式雷達物位計與工藝介質隔離。因為不與被測量的介質接觸，它也可以測量腐蝕介質的物位。

3 局限性

對于非接觸式雷達物位計來說，良好的安裝是成功的關鍵，必須清楚地看到表面上帶有光滑的、不被阻塞、不受限制的固定管嘴。

被測量表面必須是平坦的，不能有斜面。非接觸式雷達物位計能在攪拌環境中工作，但是流體的屬性和渦流的程度將決定物位計是否能很好地測量液位。介質的介電常數和表面的條件將影響測量。如果工藝流體的介電常數低，那么大部分的幅射能量會流失到液體中，只剩下很少的能量被反射回物位計中。

不管是由攪拌、產品混和產生的，還是由潑灑產生的，如果表面渦流過強，會損失過多的信號。因此，液體的介電常數和渦流的程度，可以限制返回到非接觸式雷達物位計的信號。為了獲得良好的信號，可以使用旁通管或導波管將被測量表面與渦流液體隔離。